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林 志零
正在
12 years ago
幹 仁兄把時間浪費在掃瞄wafer上, 超過借機時間1hr,害我被領班醮, 建好程式後再掃另一片wafer的意義何在? 下次我自己下去就好了.....
林 志零
說
12 years ago
再掃一片檢出率根本不可能提高, 只是在控制defect會不會掃到爆而已
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